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日本日立X射線熒光分析儀EA1000VX概述
EA1000VX對應環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。
測量元素：原子序數(shù)13(Al)～92(U)
樣品形態(tài)：固體、粉末、液體
射線源：X射線管球(Rh靶材)
管電壓：大50kV 管電流：大1000μA
檢測器：多陰極半導體檢測器
分析領域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自動切換)
樣品觀察：彩色CCD攝像頭
濾波器：5種模式自動切換
樣品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm
定性分析：能譜測量、自動辨別、KLM標示表示、差異表示
定量分析：塊體校準曲線、塊體FP法
有害物質(zhì)測量功能：環(huán)境管制物質(zhì)測量軟件Ver.2、Dbeasy
材料辨識、分析線切換、波峰分離顯示功能、波峰標記功能等
數(shù)據(jù)處理：配備EXCEL、配備WORD
外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm
安裝尺寸：1500（W）×1000（D）
重量：約60kg
使用電源（主機）：AC100~240V±10%單相
選購項：自動進樣器、能譜匹配軟件、薄膜FP軟件、各種標準物質(zhì)
